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设备功能分类-科技支撑

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    高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
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    高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
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    扫描隧道显微镜(STM) X射线光电子能谱(XPS) 角分辨光电子能谱(ARPES)
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    角分辨光电子能谱(ARPES)
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    扫描隧道显微镜(STM)
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    X射线光电子能谱(XPS)
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    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） 环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
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    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
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    高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 环境控制原子力显微镜(AFM)
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    环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
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    环境控制原子力显微镜(AFM)
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    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
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    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) X射线光电子谱(XPS)
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    高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 场发射环境扫描电镜（SEM） X射线光电子谱(XPS) X射线荧光光谱仪(XRF)
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    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
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    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
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    X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD)
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    双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
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    X射线多晶衍射仪(PXRD) 双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
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    高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM） 劳厄背散射仪(Laue)
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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 磁学测量系统（MPMS3） 无液氦制冷机（TeslatronPT））
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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 等温滴定微量热仪(ITC) 动态热机械分析仪 旋转流变仪
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    电子万能试验机 旋转流变仪 动态热机械分析仪
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    塞贝克系数/电阻测量系统 无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 电化学工作站 紫外-可见光谱电化学测试系统 无液氦制冷机（TeslatronPT-14T））
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    磁学测量系统（MPMS3） 综合物性测量系统（PPMS-16T)）
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    广角动态光散射仪(WADLS)
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    广角动态光散射仪(WADLS)
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    原位XRD(in-situ XRD) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD) 动态热机械分析仪
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    比表面积及孔隙分析仪
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    原位XRD(in-situ XRD)
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    场发射环境扫描电镜（SEM） 差示扫描量热仪(DSC) 原位XRD(in-situ XRD)
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    环境控制原子力显微镜(AFM) 电化学工作站 原位XRD(in-situ XRD)
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    场发射环境扫描电镜（SEM） 原位XRD(in-situ XRD)
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    高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
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    离子溅射镀膜仪 徕卡高真空镀膜仪 离子研磨仪
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    高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE) 光学浮区炉(OFZ) 真空自动封管系统

设备功能分类-科技支撑

设备功能分类-产业支撑

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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 塞贝克系数/电阻测量系统 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) X射线光电子谱(XPS) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT)
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    无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 电子万能试验机
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    比表面积及孔隙分析仪 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 流变仪 环境控制原子力显微镜(AFM) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 同步热分析仪(TGA-DSC) 低能电子衍射(LEED) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
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