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设备功能分类-产业支撑

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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 塞贝克系数/电阻测量系统磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) X射线光电子谱(XPS) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT)
  
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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) X射线多晶衍射仪(PXRD) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 电子万能试验机
  
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  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 动态热机械分析仪旋转流变仪电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
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  广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 流变仪同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线多晶衍射仪(PXRD) 等温滴定微量热仪(ITC) 电子万能试验机双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 低温闪射法导热仪(LFA)

设备功能分类-产业支撑

先进材料分析

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综合物性测量分析——磁性的测量及分析（2）

时间:2023-12-18 作者:张超点击：

相关设备：磁性测量系统MPMS3/quantum design连接://m.landbolivia.com/info/1024/1388.htm

综合物性测量系统PPMS/ quantum design连接://m.landbolivia.com/info/1024/1601.htm

主要指标：最优测量精度:≤5×10^-8emu；温度范围: 1.8-400K(相关选件可将温度拓展到400mK-1000K)；磁场范围: ±7 T/±16T；

应用领域：物理、材料、化学、生物、地质等学科。所能研究测量的材料涵盖金属、陶瓷、半导体、超导体、磁性材料、合金材料、有机材料、介电材料和高分子材料等。材料的形式可以是：块材、薄膜、粉末、液体、单晶及纳米材料。

上一条：综合物性测量分析——磁性的测量及分析（3）

下一条：综合物性测量分析——磁性的测量及分析（1）