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  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
  
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  扫描隧道显微镜(STM) X射线光电子能谱(XPS) 角分辨光电子能谱(ARPES)
  
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  角分辨光电子能谱(ARPES)
  
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  扫描隧道显微镜(STM)
  
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  X射线光电子能谱(XPS)
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  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
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  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM）高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD)
  
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  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）环境控制原子力显微镜(AFM)
  
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  环境控制原子力显微镜(AFM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）
  
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  环境控制原子力显微镜(AFM)
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  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
  
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  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) X射线光电子谱(XPS)
  
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  高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）场发射环境扫描电镜（SEM） X射线光电子谱(XPS) X射线荧光光谱仪(XRF)
  
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  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF) X射线光电子谱(XPS)
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  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
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  X射线多晶衍射仪(PXRD) 原位XRD(in-situ XRD)
  
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  双微焦斑单晶XRD(SCD) 液态金属靶单晶XRD(MJ SCD) 高分辨透射及PDF散射系统(PDF)
  
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  高分辨分析型场发射扫描电镜（SEM）劳厄背散射仪(Laue)
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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 磁学测量系统（MPMS3）无液氦制冷机（TeslatronPT））
  
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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) 低温闪射法导热仪(LFA) 高温闪射法导热仪(LFA HT) 等温滴定微量热仪(ITC) 动态热机械分析仪旋转流变仪
  
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  电子万能试验机旋转流变仪动态热机械分析仪
  
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  塞贝克系数/电阻测量系统无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 低温探针台(CRX-4K) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统无液氦制冷机（TeslatronPT-14T））
  
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  磁学测量系统（MPMS3）综合物性测量系统（PPMS-16T)）
  
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  广角动态光散射仪(WADLS)
  
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  原位XRD(in-situ XRD) 高分辨薄膜XRD(HR-TF XRD) 动态热机械分析仪
  
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  比表面积及孔隙分析仪
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  原位XRD(in-situ XRD)
  
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  场发射环境扫描电镜（SEM）差示扫描量热仪(DSC) 原位XRD(in-situ XRD)
  
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  环境控制原子力显微镜(AFM) 电化学工作站原位XRD(in-situ XRD)
  
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  场发射环境扫描电镜（SEM）原位XRD(in-situ XRD)
  
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  高通量激光分子束外延(LMBE) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE)
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  离子溅射镀膜仪徕卡高真空镀膜仪离子研磨仪
  
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  高通量激光分子束外延(LMBE) 高通量氧化物分子束外延(OxMBE) 光学浮区炉(OFZ) 真空自动封管系统

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角分辨光电子能谱(ARPES)

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环境控制原子力显微镜(AFM)

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比表面积及孔隙分析仪

原位分析

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样品制备

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  无液氦综合物性测量系统(PPMS DynaCool) 高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 磁学测量系统(MPMS 3) 无液氦稀释制冷机(Triton-500) 角分辨光电子能谱(ARPES) 环境控制原子力显微镜(AFM) 无液氦制冷机(Teslatron PT14T50mm) 反射式高能电子衍射(RHEED) 低温探针台(CRX-4K) 低能电子衍射(LEED) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) X射线多晶衍射仪(PXRD)
  
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  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 广角动态光散射仪(WADLS) 瞬态/稳态荧光光谱仪(FLS) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 流变仪环境控制原子力显微镜(AFM) 角分辨光电子能谱(ARPES) 反射式高能电子衍射(RHEED) 同步热分析仪(TGA-DSC) 低能电子衍射(LEED) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 扫描隧道显微镜(STM) 电子万能试验机 X射线小角散射仪(SAXS) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
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  比表面积及孔隙分析仪高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM) 高分辨分析型场发射扫描电镜(SEM) 环境控制原子力显微镜(AFM) 同步热分析仪(TGA-DSC) 差示扫描量热仪(DSC) X射线光电子谱(XPS) 电化学工作站紫外-可见光谱电化学测试系统高温闪射法导热仪(LFA HT) X射线多晶衍射仪(PXRD) 低温闪射法导热仪(LFA)
  
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激光粒度仪

仪器编号：

联系方式：18845078252

放置地点：新利体育app （云谷校区）E10-129实验室

开放范围：自主测试：校内送样测试：校内、校外

自主操作送样检测

实验室：

职位：

邮箱：

仪器详细信息
技术资料
收费标准
样品要求及预约说明

生产厂家	Malvern	型号	MASTERSIZER 3000
制造国家	英国	分类号	020502
放置地点	云谷校区E10-129实验室	入网时间	2022/08/11
主要规格及技术指标	（1）粒径测量范围：0.01um～3500um；（2）光源：高稳定氦-氖激光器，波长为632.8nm；独立固体蓝光光源，波长470nm；（3）分散器：同时配置干法和湿法（分散体积120ml）分散系统。（1）Particle size measurement range:0.01um～3500um；（2）Red light source: He-Ne Laser 632.8nm;Blue light source: LED 470nm; （3）Areo dry dispersion units and Hydro wet dispersion units;
主要功能及特色	"Mastersizer 3000利用颗粒对激光的散射（衍射）现象测量颗粒大小及其分布，可为干湿法分散提供快速、便捷的粒径分布测试。 The Mastersizer 3000 uses the technique of laser diffraction to measure the particle size and particle size distribution of materials. "
主要附件及配置	（1）高稳定氦-氖激光器，波长为632.8nm；独立固体蓝光光源，波长470nm；（2）干法分散器和湿法分散器；（3）广角检测系统(0.015-144度)；

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类型	项目	细则	校内	校外	说明
自主上机	粒径测试	需预约并经过培训和考核；	180元/时	/	实验完成后必须将仪器清洗干净；湿法测试不提供纯水以外的溶剂；
委托测试	湿法测试	常规测试，需提供样品的实验参数；	150元/样	300元/样	实验参数摸索或特殊测试依据实验条件和测试时间费用另计；湿法测试不提供纯水以外的溶剂；
委托测试	干法测试	常规测试，需提供样品的实验参数；	150元/样	300元/样	实验参数摸索或特殊测试依据实验条件和测试时间费用另计；湿法测试不提供纯水以外的溶剂；
培训	仪器培训	一对一/一对二培训；同等内容的第二次培训，收费1.5倍	400元/时/人	/	/

湿法模式测试：样品颗粒良好分散在溶剂中。

校内连接: 实验室与科研设施部; 生物医学实验技术中心; 先进微纳加工与测试平台; 分子科学公共实验平台; 实验动物中心; 高性能计算中心

校外连接: 清华大学仪器共享服务平台; 上海交通大学分析测试中心; 浙江大学大型仪器共享平台

联系地址：浙江杭州市西湖区墩余路600号

新利体育app 云谷校区

邮编: 310030

邮箱：iscps@westlake.edu.cn

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